可靠度试验
可靠度试验
寿命试验
寿命试验是研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。寿命试验是可靠性试验中*重要*基本的项目之一，它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化规律。通过寿命试验，可以了解产品的寿命特征、失效规律、失效率、平均寿命以及在寿命试验过程中可能出现的各种失效模式。如结合失效分析，可进一步弄清导致产品失效的主要失效机理，作为可靠性设计、可靠性预测、改进新产品质量和确定合理的筛选、例行（批量保证）试验条件等的依据。如果为了缩短试验时间可在不改变失效机理的条件下用加大应力的方法进行试验，这就是加速寿命试验。通过寿命试验可以对产品的可靠性水平进行评价，并通过质量反馈来提高新产品可靠性水平。
高温寿命试验为利用温度及电压加速的方法,藉短时间的实验来评估IC产品的长时间操作寿命.一般常见的寿命实验方法有 BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent Dielectric Breakdown)，对于不同的产品类别也有相对应的测试方法及条件，如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。
上述各项实验条件均需施加电源或信号源使组件进入工作状态或稳态，经由电压及时间的加速因子(Acceleration Factor)交互作用下达到材料老化的效果，并由实验结果计算出预估产品的故障率及FIT(Failure In Time)和MTTF(Mean Time To Failure)。
低温工作寿命试验
低温操作寿命试验为利用低温及电压加速的方法，评估该组件于低温环境操作下的寿命。
与高温寿命试验测试相似的是实验过程中须让组件处于工作状态或稳态，唯温度加速因子则由高温差变成低温差，换算成**温度后再加以计算。
耐久性试验
耐久性试验 endurance test /durability test
为测定产品在规定使用和维修条件下的使用寿命而进行的试验。(GJB451-90)
为预测或验证结构的薄弱环节和危险部位而进行的试验，它作为确定经济寿命的基础。(GJB775.1-89)
新产品的工作寿命长短涉及到产品设计，制造，材料，工艺，制造过程中的质量管理以及用户使用维修的水平等条件。因此，工作寿命是一个系统工程问题，在新产品开发定型试验或生产工艺，材料有重大变更时，要进行产品的耐久性试验，耐久试验的试验时间一般都长于可靠性试验，通过耐久试验，找出产品设计制造中哪些零件可靠性方面存在问题，以便进行改进设计或提高工艺水平，同时通过测量主要件的磨损量变化，可计算出新产品的使用寿命。 同可靠性试验相类似，耐久性试验过程中也需记率何时哪个零件出现了故障及因故障而停机的情况。试验前后应对新产品进行性能试验，对主要运动件配合尺寸进行测量，并根据用途，标定功率的不同选用行业标准中规定的试验循环进行试验。
依据标准：
GJB775.1-89
GJB451-90
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